A.水
B.機油
C.甘油
D.化學漿糊
E.定影液
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A.每天開機后
B.檢測時過程中工件溫度變化較大
C.檢測時間超過4個小時
D.檢測結束時
E.檢測過程發(fā)現(xiàn)靈敏度或時基線發(fā)生偏離
A.若時基線偏差值≤1%,則應修正后方可繼續(xù)檢測
B.若時基線偏差值≤2%,則應修正后方可繼續(xù)檢測
C.若時基線偏差值>1%,應修正設定,同時應對上一次校驗后檢測的所有焊縫進行復檢
D.若時基線偏差值>2%,應修正設定,同時應對上一次校驗后檢測的所有焊縫進行復檢
E.如若不修正,時基線的偏差值將影響缺陷檢出率
A.若偏離值≤4dB ,則修正設定后可繼續(xù)進行檢測
B.若偏離值>-4dB ,應修正設定,同時應對上一次校驗后已記錄的顯示進行復檢
C.若偏離值>-4dB ,應修正設定,同時應對上一次校驗后檢測的所有焊縫進行復檢
D.若偏離值>+4dB ,應修正設定,同時應對上一次校驗后已記錄的顯示進行復檢
E.若偏離值>+4dB ,應修正設定,同時應對上一次校驗后檢測的所有焊縫進行復檢
A.檢測等級
B.驗收等級
C.記錄等級
D.質(zhì)量等級
E.評定等級
A.如差值≤2dB ,無需進行修正
B.如差值>2dB且<10dB ,應進行補償
C.如差值>2dB且<12dB ,應進行補償
D.如差值≥10dB ,應考慮原因,如適用應進一步修整探頭移動區(qū)
E.如差值≥12dB ,應考慮原因,如適用應進一步修整探頭移動區(qū)
A.記錄缺陷的反射波幅或當量平底孔直徑
B.板材厚度小于等于20mm時,移動探頭使缺陷波下降到基準靈敏度條件下顯示屏滿刻度的50%,探頭中心點即為缺陷的邊界點
C.板材厚度大于20mm~60mm時,移動探頭使缺陷波下降到距離-波幅曲線,探頭中心點即為缺陷的邊界點
D.確定底面第一次反射波(B1)波幅低于顯示屏滿刻度的50%的缺陷的邊界范圍時,移動探頭使底面第一次反射波上升到基準靈敏度條件下顯示屏滿刻度的50%或上升到距離波幅曲線,此時探頭中心點即為缺陷的邊界點
E.缺陷邊界范圍確定后,用一邊平行于板材壓延方向矩形框包圍缺陷,其長邊作為缺陷的長度,矩形面積則為缺陷的指示面積
A.使用雙晶直探頭對缺陷進行定量時,探頭的移動方向應與探頭的隔聲層相平行
B.板材厚度小于等于20mm時,移動探頭使缺陷波下降到基準靈敏度條件下顯示屏滿刻度的50%,探頭中心點即為缺陷的邊界點
C.板材厚度大于20mm~60mm時,移動探頭使缺陷波下降到距離-波幅曲線,探頭中心點即為缺陷的邊界點
D.確定底面第一次反射波(B1)波幅低于顯示屏滿刻度的50%的缺陷的邊界范圍時,移動探頭使底面第一次反射波上升到基準靈敏度條件下顯示屏滿刻度的50%或上升到距離波幅曲線,此時探頭中心點即為缺陷的邊界點
E.缺陷邊界范圍確定后,用一邊平行于板材壓延方向矩形框包圍缺陷,其長邊作為缺陷的長度,矩形面積則為缺陷的指示面積
A.缺陷第一次反射波(F1)波幅低于距離-波幅曲線
B.缺陷第一次反射波(F1)波幅高于距離-波幅曲線
C.用雙晶探頭檢測板厚小于20mm板材時,缺陷第一次反射波(F1)波幅大于或等于顯示屏滿刻度的50%
D.底面第一次反射波(B1)波幅低于顯示屏滿刻度的50%
E.底面第一次反射波(B1)波幅高于顯示屏滿刻度的50%
A.探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)發(fā)生改變時
B.耦合劑發(fā)生改變時
C.懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時
D.連續(xù)工作2小時后
E.工作結束時
A.裂紋
B.根部收縮
C.咬邊
D.表面氣孔
E.表面夾渣
最新試題
《鋼網(wǎng)架螺栓球節(jié)點》JG/T 10-2009中規(guī)定,鋼網(wǎng)架結構型式檢驗的樣本應從批量產(chǎn)品中隨機抽樣破壞試驗的樣本不少于3件。
現(xiàn)行標準規(guī)定碳素結構鋼、低合金高強度鋼拉伸試驗其屈服強度應取上屈服強度。
對于厚度為25mm的Q235級碳素結構鋼,下列屈服強度ReH測值中符合標準要求的有()。
超聲波探傷的檢測方法以下描述正確的是()
焊腳尺寸有哪些焊縫種類?()
鋼網(wǎng)架結構撓度值測量方法以下敘述正確的是()
金屬屋面抗風掀性能檢測方法——靜態(tài)壓力法的檢測裝置由哪幾部分組成?()
連接副的緊固軸力試驗時墊圈不得轉(zhuǎn)動,否則該試驗無效。
《鋼網(wǎng)架螺栓球節(jié)點》JG/T 10-2009中規(guī)定,螺栓球宜采用GB/T 699規(guī)定的45號圓鋼鍛造成型。螺栓球不得有裂紋。
碳素結構鋼、低合金高強度鋼檢測抗拉強度屈服強度的拉伸試驗每批次應取一個試樣。