A.重現(xiàn)性差
B.火焰溫度低
C.燃燒不穩(wěn)定
D.具備還原性
E.火焰溫度高
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A.重現(xiàn)性好
B.噪聲小
C.燃燒不穩(wěn)定
D.具備還原性
E.燃燒穩(wěn)定
A.重現(xiàn)性差
B.火焰溫度高
C.燃燒不穩(wěn)定
D.具備還原性
E.燃燒穩(wěn)定
A.助燃?xì)鈿鈮航档?br/>B.進(jìn)液管可能堵塞
C.沒有吸進(jìn)母液
D.燃?xì)鈿鈮航档?br/>E.廢液瓶溢出
A.空心陰極燈不良
B.容器被污染
C.空白溶液被污染
D.檢測器失效
E.分光器被污染
A.CO2
B.N2
C.O2
D.H2
E.電子
最新試題
紅外碳硫儀中的紅外檢測池具有單一性，各紅外池間不可互相代用。
ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。
ICPMS微波消解溶樣時(shí)開啟微波消解罐時(shí)應(yīng)戴好手套和防護(hù)眼鏡。
原子熒光法做檢出限測試時(shí)應(yīng)對(duì)空白樣品連續(xù)測定7次。
直讀光譜儀使用一段時(shí)間后需要清理廢氣過濾器，廢氣過濾器需放置一段時(shí)間后才能打開，以防自燃。
X射線熒光光譜儀長時(shí)間停用后，可以直接調(diào)整電壓和電流至工作電壓和電流。
高頻感應(yīng)紅外線吸收法測定鎢鐵中碳硫含量，氧氣源發(fā)生改變時(shí)，應(yīng)重新對(duì)工作曲線進(jìn)行校正。
選用ICP-AES分析鎳鐵中砷時(shí)，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以不進(jìn)行背景校正。
X射線熒光光譜分析中，含吸附水的樣品會(huì)影響抽真空的效果，導(dǎo)致分析延時(shí)。
碳硫分析儀器短期或長期不使用時(shí)，應(yīng)間隔一段時(shí)間，開一次機(jī)。