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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】充電法的曲線特點(diǎn)與探測(cè)地質(zhì)體的關(guān)系？
答案：
充電法中電位曲線的極大值點(diǎn)和電位梯度曲線的零值點(diǎn)對(duì)應(yīng)地下良導(dǎo)低阻體的位置。
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】充電法的應(yīng)用條件？
答案：
探測(cè)對(duì)象的電阻率應(yīng)遠(yuǎn)小于圍巖的電阻率，圍巖的巖性比較單一，地表介質(zhì)電性均勻、穩(wěn)定，地形平坦，埋于地下的探測(cè)對(duì)象有天然露頭...
問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】充電法的主要應(yīng)用范圍？
答案：
充電法多用于金屬礦區(qū)的勘探，追索或圈定礦體范圍、確定礦體產(chǎn)狀和理深、判斷露頭相鄰的礦體下部是否相連，在工程物探中主要用來(lái)...
