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液浸超聲探傷中,發(fā)現(xiàn)缺陷通常需要調(diào)整探頭角度,其目的是()。
A.避免底波干擾
B.使缺陷波最大
C.入射角反射性增加
D.使缺陷波厚度等于試塊中平底孔顯示高度
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換能器頻率與芯片厚度有關(guān),芯片愈薄,頻率()。
A.愈低
B.愈高
C.不變
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超聲波探傷檢測缺陷,實質(zhì)上是測定超聲波的()。
A.波長
B.強度
C.傳播速度
D.頻率
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