A.大于入射角
B.小于入射角
C.與入射角相同
D.在臨界角之外
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A.低頻檢驗(yàn)
B.高頻檢驗(yàn)
C.軸向和徑向檢驗(yàn)
A.靈敏度范圍
B.線性范圍
C.選擇性范圍
D.分辨率范圍
A.表面波的斜射接觸法
B.垂直縱波接觸法
C.表面波水侵法
D.橫波斜射法
A.連續(xù)顯示法
B.A掃描顯示
C.B掃描顯示
D.C掃描顯示
A.自動(dòng)記數(shù)裝置
B.A掃描顯示
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最新試題
經(jīng)變形橫波轉(zhuǎn)換后探頭接收到的回波滯后于單純縱波傳播至底返面的回波,滯后時(shí)間與變形橫波橫穿工件厚度的次數(shù)成反比。
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過一段液體后再進(jìn)入試件的檢測(cè)的方法。
非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小,聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點(diǎn)和氣孔等缺陷。
對(duì)于圓柱體而言,外圓徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱體時(shí),入射點(diǎn)處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。
缺陷相對(duì)反射率即缺陷反射聲壓與基準(zhǔn)反射體聲壓之比。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計(jì)算公式與圓柱形平面反射體的表達(dá)式進(jìn)行比較可知,在反射體直徑相同的情況下,圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時(shí),而又沒有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償,會(huì)使定量誤差增加,精度下降。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
分辯率可使用通用探傷儀進(jìn)行測(cè)量,測(cè)試時(shí)儀器抑制置“零”或“開”位,必要時(shí)可加匹配線圈。