判斷題園芯片斜探頭的上指向角小于下指向角。
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超聲平面波不存在材質(zhì)衰減。
題型:判斷題
超聲波垂直入射到兩種介質(zhì)的界面上,其聲壓反射率和聲壓透射率之和為1。
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X射線透照探傷焊縫,焊縫中的白點是由脆性夾渣物造成的
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材質(zhì)和超聲頻率給定時,橫波對小缺陷的檢測靈敏度高于縱波。
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超聲波垂直入射時,界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗相差越小,聲壓往復透過率越低。
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焊縫超聲波探傷,探頭角度選擇,主要根據(jù)探測頻率。
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超聲波探傷,應用人工反射體參考試塊,主要目的是提供確定缺陷尺寸的方法。
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題型:判斷題