你可能感興趣的試題

以下關(guān)于可靠性設(shè)計(jì)準(zhǔn)則說(shuō)法正確的是（）。

A.可靠性設(shè)計(jì)準(zhǔn)則是進(jìn)行可靠性定性設(shè)計(jì)的重要依據(jù)
B.貫徹可靠性設(shè)計(jì)準(zhǔn)則可以提高產(chǎn)品的固有可靠性
C.貫徹可靠性設(shè)計(jì)準(zhǔn)則是實(shí)現(xiàn)可靠性設(shè)計(jì)與性能設(shè)計(jì)同步的有效方法
D.以上都是

單項(xiàng)選擇題

故障樹(shù)定性分析內(nèi)容之一是求全部最小割集。對(duì)于最小割集，以下說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。

A.階數(shù)越大的最小割集越重要
B.在低階最小割集中出現(xiàn)的底事件比高階最小割集中的底事件重要
C.在不同最小割集中重復(fù)出現(xiàn)次數(shù)越多的底事件越重要
D.B和C都對(duì)

應(yīng)用計(jì)數(shù)法對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行可靠性預(yù)計(jì)時(shí)，下述正確的有（）。

你可能感興趣的試題

以下關(guān)于可靠性設(shè)計(jì)準(zhǔn)則說(shuō)法正確的是（）。

故障樹(shù)定性分析內(nèi)容之一是求全部最小割集。對(duì)于最小割集，以下說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。

應(yīng)用計(jì)數(shù)法對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行可靠性預(yù)計(jì)時(shí)，下述正確的有（）。

以下關(guān)于可靠性設(shè)計(jì)準(zhǔn)則說(shuō)法正確的是（）。

故障樹(shù)定性分析內(nèi)容之一是求全部最小割集。對(duì)于最小割集，以下說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。