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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】局部數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)測(cè)試主要表現(xiàn)形式是哪6個(gè)方面？
答案：
（1）局部數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)測(cè)試最常見(jiàn)的積累錯(cuò)誤；
（2）不適合或者不相容的類型說(shuō)明；
（3）變量無(wú)初值；
（2）不適合或者不相容的類型說(shuō)明；
（3）變量無(wú)初值；
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】單元測(cè)試主要需要測(cè)試哪幾點(diǎn)？
答案：
程序語(yǔ)法檢查、程序邏輯檢查、模塊接口測(cè)試、局部數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)測(cè)試、路徑測(cè)試、邊界條件測(cè)試、錯(cuò)誤處理測(cè)試，代碼書(shū)寫(xiě)規(guī)范檢查。
問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述單元測(cè)試的主要任務(wù)。
答案：
單元測(cè)試的主要任務(wù)有：程序語(yǔ)法檢查、程序邏輯檢查、模塊接口測(cè)試、局部數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)測(cè)試、路徑測(cè)試、邊界條件測(cè)試、錯(cuò)誤處理測(cè)試、...
