A.散點(diǎn)圖
B.半對(duì)數(shù)線圖
C.直條圖
D.直方圖
E.普通線圖
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.散點(diǎn)圖
B.半對(duì)數(shù)線圖
C.直條圖
D.直方圖
E.普通線圖
A.散點(diǎn)圖
B.半對(duì)數(shù)線圖
C.直條圖
D.直方圖
E.普通線圖
A.中位數(shù)
B.幾何均數(shù)
C.算術(shù)均數(shù)
D.百分位數(shù)
A.中位數(shù)
B.幾何均數(shù)
C.算術(shù)均數(shù)
D.百分位數(shù)
A.直條圖
B.直方圖
C.構(gòu)成圖
D.普通線圖
E.半對(duì)數(shù)線圖
最新試題
獨(dú)立重復(fù)試驗(yàn)中,試驗(yàn)首次成功所需的試驗(yàn)次數(shù)服從()。
()應(yīng)用于一次實(shí)驗(yàn)有多個(gè)可能結(jié)果的情況。
()開(kāi)創(chuàng)了小樣本方法的研究。
假設(shè)檢驗(yàn)中的兩類(lèi)錯(cuò)誤為()和() 。對(duì)于一定的樣本量n,()同時(shí)做到減小犯這兩種錯(cuò)誤的概率。
小樣本一般是指()。
時(shí)間序列平滑的目的是();平穩(wěn)時(shí)間序列使用()和()來(lái)預(yù)測(cè)時(shí)間序列未來(lái)值。
()和()是統(tǒng)計(jì)推斷是的兩個(gè)組成部分,它們都是利用樣本對(duì)總體進(jìn)行某種推斷。
假設(shè)檢驗(yàn)的理論根據(jù)是()。
在產(chǎn)品抽樣檢驗(yàn)和控制圖分析中經(jīng)常用到()。
有趨勢(shì)的時(shí)間序列預(yù)測(cè)應(yīng)用()和()。