許多電子產(chǎn)品的壽命分布一般服從（）。它在（）研究中是最常用的一種分布形式。

列聯(lián)表是（）變量進行交叉分類的頻數(shù)分布表，它包含有（）頻數(shù)和（）頻數(shù)。卡方檢驗通常被用來檢驗列聯(lián)表（）。

依據(jù)（），來自不同總體的樣本均值的抽樣分布，隨著樣本容量的逐漸增加，趨于一種分布——（）。

（）開創(chuàng)了小樣本方法的研究。

（）和（）是統(tǒng)計推斷是的兩個組成部分，它們都是利用樣本對總體進行某種推斷。

方差分析簡稱（），用于解決（）的檢驗問題。 方差分析的對象稱為（）；因素的內(nèi)容稱為（）。

一元線性回歸用于研究一個（）和一個（）之間的統(tǒng)計關系。

影響時間序列的因素包括（）、（）、（）和（）。

（）用于方差分析、協(xié)方差分析和回歸分析等。

假設檢驗分為（）和（）。