卡方檢驗(yàn)通常被用在（）、（）。

（）和（）是統(tǒng)計(jì)推斷是的兩個(gè)組成部分，它們都是利用樣本對(duì)總體進(jìn)行某種推斷。

在實(shí)際問題中，當(dāng)我們無法區(qū)分在區(qū)間[a，b]內(nèi)取值的隨機(jī)變量X取不同值的可能性有何不同時(shí)，我們就可以假定X服從[a，b]上的（）。

影響時(shí)間序列的因素包括（）、（）、（）和（）。

總體服從正態(tài)分布，無論樣本容量如何，樣本均值的抽樣分布均服從（），總體方差已知，均可使用（）建立總體均值的置信區(qū)間。

列聯(lián)表是（）變量進(jìn)行交叉分類的頻數(shù)分布表，它包含有（）頻數(shù)和（）頻數(shù)。卡方檢驗(yàn)通常被用來檢驗(yàn)列聯(lián)表（）。

點(diǎn)估計(jì)的評(píng)價(jià)準(zhǔn)則包括（）、（）和（）等。

許多電子產(chǎn)品的壽命分布一般服從（）。它在（）研究中是最常用的一種分布形式。

（）適合于描述單位時(shí)間內(nèi)隨機(jī)事件發(fā)生的次數(shù)，并能作為（）的近似。

時(shí)間序列分為（）、（）和（）。