單項(xiàng)選擇題當(dāng)頻率和材料一定時(shí),通常橫波對(duì)小缺陷的檢測靈敏度高于縱波,因?yàn)椋ǎ?/strong>

A.橫波比縱波波長短
B.橫波在材料中不易發(fā)散
C.橫波的質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向?qū)θ毕葺^敏感
D.橫波比縱波的波長要長


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1.單項(xiàng)選擇題在陰極射線管中由電子束沖擊而發(fā)光的內(nèi)涂層面叫做()

A.電子轟擊
B.電子放大器
C.熒光屏
D.電子計(jì)算機(jī)

2.單項(xiàng)選擇題相同波型的超聲波反射角()

A.等于入射角
B.與使用的耦合劑有關(guān)
C.與使用頻率有關(guān)
D.等于折射角

3.單項(xiàng)選擇題利用陰極發(fā)射的電子束在熒光屏上顯示圖象的電子管叫做()

A.放大管
B.脈沖管
C.陰極射線管
D.掃描管

4.單項(xiàng)選擇題如果探測面毛糙,因該采用()

A.不太高頻率的探頭
B.較高頻率的探頭
C.硬保護(hù)膜探頭
D.上述三種均無需考慮

5.單項(xiàng)選擇題用單探頭法為要發(fā)現(xiàn)與聲束取向不良的缺陷,應(yīng)采用的頻率()

A.越高越好
B.越低越好
C.不太高的頻率
D.較尋常為高的頻率

最新試題

板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。

題型:單項(xiàng)選擇題

調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。

題型:單項(xiàng)選擇題

縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。

題型:單項(xiàng)選擇題

底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。

題型:單項(xiàng)選擇題

檢測靈敏度太高和太低對(duì)檢測都不利。靈敏度太低,()。

題型:單項(xiàng)選擇題

利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。

題型:單項(xiàng)選擇題

()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

題型:單項(xiàng)選擇題

()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

題型:單項(xiàng)選擇題

()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。

題型:單項(xiàng)選擇題