A.探頭效率
B.聲耦合問題
C.檢驗(yàn)裝置的脈沖重復(fù)頻率
D.陰極射線管熒光屏的余輝時(shí)間
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A.波長的一半
B.1個(gè)波長
C.1/4波長
D.若干波長
A.在而平的缺陷與入射聲束取向不良
B.疏松
C.大晶粒
D.上述三種都可能引起這種情況
A.鋁鍛件
B.鋼錠
C.鋁鑄件
D.鋁錠
A.低頻聲波衰減小
B.波長不適合
C.近表面分辨力不夠
D.上述三種實(shí)際上都不會限制這樣的檢驗(yàn)
A.幾乎沒有能量峰值起伏的平面波
B.有能量峰值起伏的活塞波,其強(qiáng)度隨傳播距離一直保持恒定
C.有能量峰值起伏,但在一定的峰值后其強(qiáng)度隨傳播距離而減小
D.上述三種都不對
最新試題
單探頭法容易檢出()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
儀器水平線性影響()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。