A.三倍
B.12dB
C.24dB
D.以上三個(gè)答案都不對(duì)
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A.6dB
B.18dB
C.32dB
D.24dB
A.f大于近場(chǎng)長(zhǎng)度
B.f小于近場(chǎng)長(zhǎng)度
C.f等于近場(chǎng)長(zhǎng)度
D.f任選
A.C1〈C2
B.C1〉C2
C.Z1〉Z2
D.Z1〈Z2
A.垂直線于聲波的裂紋
B.任意取向的夾雜物
C.平行于表面的裂紋
D.一系列小缺陷
A.引起聲能擴(kuò)散
B.引起反射波束聚焦,焦點(diǎn)決定于缺陷的曲率
C.引起超聲波波長(zhǎng)改變
D.上述三種都不對(duì)
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
儀器水平線性影響()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。