A.連續(xù)波顯示
B.A掃描顯示
C.B掃面顯示
D.C掃描顯示
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A.放大器線性，分辨力，示波管平面尺寸
B.放大器線性，分辨力，阻塞時(shí)間
C.放大器線性，水平線性，分辨力
D.發(fā)射功率，耗電功率，外形尺寸與重量
A.脈沖寬度
B.脈沖振幅
C.脈沖形狀
D.上述三種都不對(duì)
A.兩者相同
B.前者大于后者
C.后者大于前者
D.以上都不對(duì)
A.低于報(bào)警門限
B.高于報(bào)警門限
C.達(dá)到報(bào)警門限
D.A和C
A.與脈沖發(fā)生器，探頭和接收器的組合性能相關(guān)
B.隨頻率的提高而提高
C.隨分辨率的提高而提高
D.與換能器的機(jī)械阻尼無關(guān)
最新試題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
單探頭法容易檢出（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。