A.CSK-IA
B.CSK-IIA
C.CSK-IIIA
D.CSK-IVA
E.以上都是
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.前后掃查
B.左右掃查
C.轉(zhuǎn)角與環(huán)繞掃查
D.以上都是
A.5-10mm
B.10-20mm
C.根據(jù)母材厚度30%計(jì)算
D.以上都是
A.校準(zhǔn)后的探頭粘合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)
B.檢測(cè)人員懷疑掃描量程或掃描靈敏度有變化時(shí)
C.連續(xù)工作四小時(shí)以上時(shí)
D.工作結(jié)束時(shí)
E.以上都是
A.一星期
B.一個(gè)月
C.三個(gè)月
D.六個(gè)月
A.百分之十
B.百分之十五
C.百分之二十
D.百分之二十五
最新試題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
測(cè)長法是根據(jù)測(cè)長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長度稱為缺陷的()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。