A.Ⅰ級
B.Ⅱ級
C.Ⅲ級
D.Ⅳ級
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A.<5mm
B.<8mm
C.<10mm
D.<15mm
A.不低于評定線靈敏度
B.不低于基準(zhǔn)線靈敏度
C.不低于定量線靈敏度
D.不低于判廢線靈敏度
A.DAC、DAC-10db、DAC-16db
B.DAC-4db、DAC-10db、DAC-16db
C.DAC-2db、DAC-8db、DAC-14db
D.以上都不是
A.70°或60°
B.45°
C.K1.5、K2、K2.5
D.以上A或C
A.1MHz
B.2MHz
C.2.5MHz
D.2~2.5 MHz
最新試題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
超聲波儀時基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進(jìn)行傳輸修正。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。