A.3.0~2.0
B.2.5~1.5
C.2.0~1.0
D.以上都不是
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A.Ø1x6-9dB
B.Ø1x6-6dB
C.Ø3-4dB
D.Ø1x6+10dB
A.Ø1x6mm
B.Ø2x40mm
C.Ø3mm
D.以上都不是
A.Ⅰ級(jí)
B.Ⅱ級(jí)
C.Ⅲ級(jí)
D.Ⅳ級(jí)
A.Ⅰ級(jí)
B.Ⅱ級(jí)
C.Ⅲ級(jí)
D.Ⅳ級(jí)
A.<5mm
B.<8mm
C.<10mm
D.<15mm
最新試題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
()是影響缺陷定量的因素。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。