A.縮孔和疏松
B.夾渣
C.裂紋
D.以上都有
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.α=[B1-B2-6Db]/T
B.α=[B1-B2-6dB]/2T
C.α=[B1-B2-12dB]/2T
D.α=[B1-B2-12dB]/T
A.4dB/m
B.3dB/m
C.4dB/mm
D.3dB/mm
A.36dB
B.38dB
C.41dB
D.45dB
A.△dB=20 lg2λT/πØ2
B.△dB=10 lg2λT/πØ2
C.△dB=20 lgπØ2/2λT
D.△dB=10 lgπØ2/2λT
A.底面橫波發(fā)射法
B.對(duì)比試塊法
C.計(jì)算法
D.心算法
最新試題
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。