A.≤3.2μm
B.≤6.3μm
C.≤1.25μm
D.≤10μm
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A.5~45mm
B.5~35
C.5~25mm
D.5~15mm
A.5mm ,50mm
B.4mm ,150mm
C.1mm ,50mm
D.以上都不是
A.一
B.二
C.三
D.四
A.Ø 2mm
B.Ø 3mm
C.Ø 1mm
D.Ø 4mm
A.>20
B.>15
C.>6
D.>12
最新試題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
儀器水平線性影響()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
()是影響缺陷定量的因素。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。