A.A試塊的大
B.B試塊的大
C.一樣大
D.無(wú)法比較
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A.φ20.5.0MHz
B.φ30.5.0MHz
C.φ16.1MHz
D.φ30.2.5MHz
A.信噪比太小
B.表面太粗糙
C.晶粒太細(xì)
D.以上都不是
A.>160mm
B.>240mm
C.>320mm
D.以上都不是
A.50×50mm2
B.100×100mm2
C.317×317mm2
D.447×447mm2
A.6dB法
B.絕對(duì)靈敏度法
C.以上A或B
D.以上A和B
最新試題
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
()是影響缺陷定量的因素。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。