A.只有縱波
B.只有橫波
C.只有表面波
D.縱波、橫波、表面波
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A.重復(fù)檢驗(yàn)
B.清除可疑部位后重新檢驗(yàn)
C.進(jìn)行其他NDT方法檢驗(yàn)
D.以上都可以
A.是可疑的
B.是不合格
C.是合格
D.以上A或B
A.未產(chǎn)生缺陷信號(hào)
B.信號(hào)幅度低于設(shè)定的報(bào)警電平
C.以上A和B
D.以上A或B
A.不大于8小時(shí)
B.不大于6小時(shí)
C.不大于4小時(shí)
D.不大于2小時(shí)
A.不小于14mm
B.不大于14mm
C.不大于25mm
D.不小于25mm
最新試題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
單探頭法容易檢出()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
儀器水平線性影響()。