移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。

（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

測長法是根據測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

單探頭法容易檢出（）。

利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。

關于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。

在對缺陷進行定量前，必須先調節(jié)（）。

（）是指在確定的聲程范圍內檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據產品技術要求或有關標準來確定。

當調節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質衰減不同時，需要進行傳輸修正。