A.缺陷越大，AVG曲線越適用
B.越接近探頭的區(qū)域，AVG曲線越準確
C.從AVG曲線上確定的缺陷當量與實際缺陷完全一致
D.在AVG曲線上，由于探頭附近的種種干擾，限制了這一距離內(nèi)的缺陷回波的辯認或評定， 因而存在最小可測距離的限制
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A.缺陷自身的形狀與人工缺陷不同
B.缺陷的方向有隨機性
C.缺陷的表面狀態(tài)及組成介質(zhì)與人工缺陷不同
D.上述原因全有
A.螢光屏上剛剛顯示出來
B.回波高度飽和
C.螢光屏滿高度的50%~80%
D.以上全都可以
A.取界面波與第一次底波間的聲程。
B.最后兩次底波間的聲程。
C.取底面回波次數(shù)愈多，測定結(jié)果的精度愈高。
D.取第三次與第四次底波間的聲程。
A.發(fā)射脈沖寬度
B.放大器阻塞時間
C.探頭性能及儀器調(diào)整
D.以上都是
A.探頭靈敏度不夠
B.儀器水平線性的偏差
C.儀器垂直線性的偏差
D.耦合劑使用不當
最新試題
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。
調(diào)節(jié)時基線時，應使（）同時對準相應的聲程位置。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。
儀器水平線性影響（）。
當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。