（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

用折射角β的斜探頭進行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。

利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。

關于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。

（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。

檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。

當調節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質衰減不同時，需要進行傳輸修正。

單探頭法容易檢出（）。

移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。