（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。

靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。

超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。

當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。