單探頭法容易檢出（）。

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。

底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準(zhǔn)。

超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。

（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。

移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。

利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。

關(guān)于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。

（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。