A.垂直平探頭
B.用X—光透照
C.采用低頻探頭
D.用高頻探頭
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.一個(gè)發(fā)現(xiàn)橫傷,一個(gè)發(fā)現(xiàn)縱傷
B.兩個(gè)都用來探測橫傷
C.探測不同取向的縱傷
D.三種功能都具備
A.橫傷
B.氣孔
C.內(nèi)縱和外縱
D.一縱一橫
A.取得資格證的人員
B.一級(jí)無損探傷人員
C.二級(jí)以上無損探傷人員
D.二個(gè)一級(jí)人員共同簽署
A.縱傷
B.橫傷
C.氣孔
D.夾雜
A.采用小晶片
B.減少激發(fā)脈沖寬度和減少換能器自由振蕩時(shí)間
C.采用低頻晶片
D.采用方晶片
最新試題
探頭延檢測面水平移動(dòng),超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
單探頭法容易檢出()。
()是影響缺陷定量的因素。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。