（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

關(guān)于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。

當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。

（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。

用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。