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探頭晶片尺寸(),近場區(qū)長度增加,對近表面探傷不利。
A、增加
B、減小
C、不變
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單項選擇題
雙晶探頭用于探測工件()缺陷。
A、近表面
B、表面
C、內(nèi)部
D、平面形
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單項選擇題
探傷儀主要指標(biāo)中的動態(tài)范圍和電路中的()關(guān)聯(lián)較大。
A、電源部分
B、顯示部分
C、接收部分
D、發(fā)射部分
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