A、同步電路
B、電源電路
C、控制電路
D、報(bào)警電路
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A、電源部分
B、發(fā)射部分
C、發(fā)射和接收聲波部分
D、報(bào)警電路
A、同步電路
B、發(fā)射電路
C、電源電路
D、分頻電路
A、F=A+B
B、F=A•B
C、F=A—B
D、F=A/B
A、R
B、C
C、R•C
D、R/C
A、越小
B、越大
C、不變
D、隨充電電流均勻變化
最新試題
探傷中為了保證工件的整個(gè)被檢部位有足夠的聲束覆蓋,探頭掃查線的相鄰距離應(yīng)小于探頭的有效直徑,應(yīng)有探頭寬度()的重疊。
耦合劑應(yīng)選擇容易附著在試件的表面上,有足夠的浸潤(rùn)性以排除()之間由于表面粗糙造成的空氣間隙。
剝離層下核傷可采用軌顎法進(jìn)行校對(duì),用軌顎校對(duì)法校對(duì)時(shí),需在鋼軌表面校對(duì)的靈敏度的基礎(chǔ)上增加()。
金相也可通過(guò)掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得,他們主要是用來(lái)觀察材料的位錯(cuò),放大倍數(shù)一般為()倍。
根據(jù)接頭鋼軌下顎裂紋形成的原因,可知其具有從()逐步擴(kuò)展的特點(diǎn)。
探傷中對(duì)工件材料的()有一定的要求。
探傷中采用軌頭側(cè)面校對(duì)法,它主要適用于()的校對(duì)。
垂直法局部掃查即探頭在整個(gè)面上按規(guī)定,并事先劃出的線上移動(dòng),相鄰掃查線的間距往往()探頭直徑。
在探傷中選用較高的頻率,將會(huì)使得()因而發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力強(qiáng),可提高對(duì)缺陷的定位精度。
垂直法探傷時(shí),對(duì)要求不太高的工件常采用局部法進(jìn)行掃查,局部法掃查一般分為()。