為了提高探傷結(jié)果的可靠性，探傷前應對被檢工件的（）和形成規(guī)律以及受檢部位的受力方向等進行調(diào)查。

使用雙探頭掃查時，如盲目改變掃查方向，將會導致（）。

在橫波探傷中，探頭K值對探傷（）有較大的影響。

探傷中對工件材料的（）有一定的要求。

采用兩個斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。

探傷工技師對設(shè)備調(diào)整中的（）的相關(guān)知識應了解。

通用儀器對焊補層的下核傷是以核傷最高反射回波的80%再增益12dB作為校對靈敏度，以最大回波顯示的刻度來確定（）。

剝離層下核傷可采用軌顎法進行校對，用軌顎校對法校對時，需在鋼軌表面校對的靈敏度的基礎(chǔ)上增加（）。

在超聲波探傷中當工件聲衰減很小、試件的厚度較大時，如果重復頻率過高，儀器可能會產(chǎn)生（）

垂直法探傷時，對要求不太高的工件常采用局部法進行掃查，局部法掃查一般分為（）。