垂直法探傷時，對要求不太高的工件常采用局部法進行掃查，局部法掃查一般分為（）。

探傷中采用軌頭側面校對法，它主要適用于（）的校對。

探傷中如遇焊補層下異?；夭刹扇。ǎ┑确椒ㄟM行校對。

垂直法局部掃查即探頭在整個面上按規(guī)定，并事先劃出的線上移動，相鄰掃查線的間距往往（）探頭直徑。

由于各種試件的結構、質(zhì)量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個面，甚至只有一個可探測面。

探傷中探頭晶片尺寸增加，相應的（）對探傷有利。

根據(jù)接頭鋼軌下顎裂紋形成的原因，可知其具有從（）逐步擴展的特點。

在探傷中選用較高的頻率，將會使得（）因而發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力強，可提高對缺陷的定位精度。

耦合劑應選擇容易附著在試件的表面上，有足夠的浸潤性以排除（）之間由于表面粗糙造成的空氣間隙。

探傷中為了保證工件的整個被檢部位有足夠的聲束覆蓋，探頭掃查線的相鄰距離應小于探頭的有效直徑，應有探頭寬度（）的重疊。