在橫波探傷中，探頭K值對(duì)探傷（）有較大的影響。

垂直法局部掃查即探頭在整個(gè)面上按規(guī)定，并事先劃出的線(xiàn)上移動(dòng)，相鄰掃查線(xiàn)的間距往往（）探頭直徑。

超聲波探傷探頭的型式一般有（）等。

探傷工技師對(duì)設(shè)備調(diào)整中的（）的相關(guān)知識(shí)應(yīng)了解。

探傷中對(duì)工件材料的（）有一定的要求。

探傷中探頭晶片尺寸增加，相應(yīng)的（）對(duì)探傷有利。

探傷中采用軌頭側(cè)面校對(duì)法，它主要適用于（）的校對(duì)。

探頭移動(dòng)過(guò)程中同時(shí)作（）轉(zhuǎn)動(dòng)，稱(chēng)為擺動(dòng)掃查。

探傷中如遇焊補(bǔ)層下異?；夭刹扇。ǎ┑确椒ㄟM(jìn)行校對(duì)。

通用儀器對(duì)焊補(bǔ)層的下核傷是以核傷最高反射回波的80%再增益12dB作為校對(duì)靈敏度，以最大回波顯示的刻度來(lái)確定（）。