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A. - 每個(gè)開(kāi)發(fā)活動(dòng)都有對(duì)應(yīng)的測(cè)試活動(dòng)；-每個(gè)測(cè)試級(jí)別都有相同的測(cè)試目標(biāo)；
B. - 每個(gè)開(kāi)發(fā)活動(dòng)都有對(duì)應(yīng)的測(cè)試活動(dòng)； - 需要在相應(yīng)的開(kāi)發(fā)活動(dòng)進(jìn)行相應(yīng)的測(cè)試分析與設(shè)計(jì)活動(dòng)；
C. - 每個(gè)測(cè)試級(jí)別都有相同的測(cè)試目標(biāo)； - 測(cè)試人員應(yīng)該盡早參與文檔的評(píng)審；
D. - 測(cè)試人員盡量避免在開(kāi)發(fā)活動(dòng)中進(jìn)行測(cè)試分析與設(shè)計(jì)活動(dòng)； - 測(cè)試人員應(yīng)該盡早參與文檔的評(píng)審。

A. 組件測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試；
B. 組件測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、維護(hù)測(cè)試；
C. 功能測(cè)試、非功能測(cè)試、再測(cè)試、回歸測(cè)試；
D. 功能測(cè)試、非功能測(cè)試、回歸測(cè)試、維護(hù)測(cè)試。