問(wèn)答題

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答案：黑盒測(cè)試是基于程序的外部功能規(guī)格而進(jìn)行的測(cè)試，也稱為功能測(cè)試。白盒測(cè)試是基于程序的內(nèi)部結(jié)構(gòu)與處理過(guò)程而進(jìn)行的測(cè)試，也稱為...