A、與主軸線平行 B、與副軸線平行 C、與鍛件流線一致 D、與鍛件流線約成45°角
A、用直徑較小的探頭進行檢驗 B、在細(xì)化晶粒熱處理后進行檢驗 C、將接觸法檢驗改為液浸法檢驗 D、將縱波檢驗改為橫波檢驗
A、頻率較低的探頭和粘度較高的耦合劑 B、頻率較高的探頭和粘度較低的耦合劑 C、頻率較高的探頭和粘度較高的耦合劑 D、頻率較低的探頭和粘度較低的耦合劑