單項選擇題

CSK-IB試塊將IIW試塊的Φ50孔改為Φ40、Φ44、Φ50臺階孔,其目的是()

A、測定斜探頭K值
B、測定直探頭盲區(qū)范圍
C、測定斜探頭分辨力
D、以上全是

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