A、底片上的密度
B、膠片的實(shí)際尺寸
C、底片上的不清晰度
D、底片上的對(duì)比度
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A、源的放射性強(qiáng)度、膠片類(lèi)型、增感屏的類(lèi)型
B、源的放射性強(qiáng)度、膠片的尺寸、材料的厚度
C、源的尺寸、源的放射性、試樣與膠片的距離
D、源的尺寸、試樣厚度、幾何不清晰度
A、選得越大越好
B、選得越小越好
C、任意選擇
D、根據(jù)透照面積及規(guī)定的幾何模糊度來(lái)選擇
A、采用金屬熒光增感屏
B、在暗盒中疊放兩張同型號(hào)的膠片
C、在暗盒中裝兩張感光速度不同的膠片
D、以上都不對(duì)
A、最小厚度
B、中等厚度
C、最大厚度
D、以上都可以
A、適當(dāng)提高射線能量
B、適當(dāng)延長(zhǎng)曝光時(shí)間
C、適當(dāng)加大焦距
D、以上都是
最新試題
在近場(chǎng)以外的部分,即聲程大于3N的遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)聲壓與距離的關(guān)系為()
底片干燥時(shí),一般不得超過(guò)60℃,是因?yàn)椋ǎ?/p>
顯示試件某一縱斷面的聲象的顯示方式為()
直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面()
采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()
射線經(jīng)過(guò)一個(gè)半價(jià)層后,其()衰減一半。
下列關(guān)于IIW試塊的說(shuō)法,正確的是()
一般來(lái)說(shuō),對(duì)薄工件焊縫的超聲波探傷選用大折射角探頭可以()
表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是()
關(guān)于聲波的指向性和指向角,正確的是()