A、底片暗盒受熱,例如陽(yáng)光或輻射熱
B、暗盒漏光
C、顯影液溫度過(guò)高
D、以上都是
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A、條紋
B、粒度
C、點(diǎn)
D、白垢
A、對(duì)比度
B、不清晰度
C、顆粒度
D、以上都是
A、射線照片上可發(fā)現(xiàn)的最小缺陷尺寸
B、射線照片上可識(shí)別的像質(zhì)計(jì)最小細(xì)節(jié)尺寸
C、對(duì)所有像質(zhì)計(jì)統(tǒng)一規(guī)定的像質(zhì)指數(shù)
D、以上都不是
A、射線照片記錄、顯示細(xì)節(jié)的能力
B、射線照相能夠發(fā)現(xiàn)的最小缺陷尺寸
C、射線照相能夠發(fā)現(xiàn)最小缺陷能力的定量評(píng)價(jià)
D、以上都對(duì)
A、感光度
B、襯度
C、溫度性能
D、密度
最新試題
超聲縱波以590000cm/s的速度穿過(guò)29.5mm厚的工件,所需時(shí)間為()
脈沖反射法A型顯示取得缺陷信息是根據(jù)()
表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是()
采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()
射線經(jīng)過(guò)一個(gè)半價(jià)層后,其()衰減一半。
在射線照相時(shí),像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在()
關(guān)于圓晶片輻射的超聲波,下列說(shuō)法正確的是()(S為傳播距離,N為近場(chǎng)長(zhǎng)度)。
關(guān)于近場(chǎng)長(zhǎng)度的說(shuō)法,正確的是()
與直探頭相比,雙晶探頭()
在探傷靈敏度確定后,缺陷的當(dāng)量大?。ǎ?/p>