A、各種像質(zhì)計(jì)設(shè)計(jì)了自己特定的結(jié)構(gòu)和細(xì)節(jié)形式,規(guī)定了自己的測(cè)定射線照相靈敏度的方法,它們之間不能簡(jiǎn)單換算
B、各種像質(zhì)計(jì)有自己特定的結(jié)構(gòu)和細(xì)節(jié)形式,但它們測(cè)定射線照相靈敏度的方法是相同或相似的
C、用不同像質(zhì)計(jì)得到的射線照相靈敏度值如果相同,就意味著射線照片的影像質(zhì)量相同
D、以上都不對(duì)
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A、不能提供射線照相檢驗(yàn)靈敏度的永久性證據(jù)
B、不能比較兩種不同透照技術(shù)的質(zhì)量高低;
C、不能提供可檢出缺陷尺寸的度量指示
D、不能驗(yàn)證所用透照工藝的適當(dāng)性
A、像質(zhì)計(jì)材質(zhì)和試件有相當(dāng)?shù)纳渚€吸收系數(shù)
B、像質(zhì)計(jì)形狀與尺寸都是已知的
C、像質(zhì)計(jì)和試件一起成像,而用來(lái)鑒定試件品質(zhì)的重要工具
D、像質(zhì)計(jì)并不直接用來(lái)和缺陷尺寸相比較
A、線條型主要功用為顯示照像靈敏度,而孔洞型功用為底片對(duì)比
B、孔洞型主要功用為顯示照像靈敏度,而線條型功用為底片對(duì)比
C、線條型及孔洞型主要功用均為顯示照像靈敏度
D、線條型及孔洞型主要功用均為表示底片對(duì)比
A、不銹鋼
B、鋼
C、鋁
D、與被照物有相同射線吸收系數(shù)的材料
A、顯示缺陷的大小
B、顯示底片的黑度
C、顯示底片的對(duì)比度
D、顯示照相的品質(zhì)
最新試題
關(guān)于聲壓往復(fù)透射率,以下敘述正確的是()
關(guān)于近場(chǎng)長(zhǎng)度的說法,正確的是()
直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面()
感應(yīng)電流法磁化工件主要采用()
射線經(jīng)過一個(gè)半價(jià)層后,其()衰減一半。
采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()
下列磁化方法中容易計(jì)算工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度的是()
半價(jià)層厚度與()相關(guān)。
鐵磁材料達(dá)到居里點(diǎn)時(shí),會(huì)發(fā)生什么現(xiàn)象()
一般來(lái)說,對(duì)薄工件焊縫的超聲波探傷選用大折射角探頭可以()