A.光電效應
B.湯姆遜效應
C.康普頓效應
D.電子對效應
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A.鈷—60
B.銥—192
C.鈾—235
D.碳—14
A.一回路
B.二回路
C.一次側(cè)
D.二次側(cè)
A.熱中子反應堆
B.快中子反應堆
C.示范堆
D.原型堆
A、濃縮U235
B、天然鈾
C、中子源
D、都可用
A、化學的合成
B、物理化學的轉(zhuǎn)換
C、核裂變
D、核聚變
最新試題
為了提高射線照相對比度,可以采用高電壓、短時間、大管電流的方式曝光。
X光檢驗組按復查清單組織復查,并出具X光底片復查報告,復查無遺留問題方可進行試壓。
廢舊藥液應采用專用容器收集,定期送指定的機構(gòu)處理。
對于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時,就可采用多膠片技術。
對焊接接頭穩(wěn)定時間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應作出規(guī)定,檢驗監(jiān)控確認,檢驗蓋章時穩(wěn)定時間不足者應在申請單注明穩(wěn)定時間節(jié)點,否則X光室視為穩(wěn)定時間符合要求。
一次完整的兩面多層補焊,當正面打底層質(zhì)量進行過一次X射線檢測,若反面還需打底,則無需X射線檢測。
點焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。
像質(zhì)計放置次數(shù)一般應與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
缺陷分類應符合驗收標準的要求,標準未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗合格,申請單無需檢驗蓋章確認。