A.水洗型著色方法
B.后乳化型著色方法
C.溶劑清洗型著色方法
D.自乳化型熒光方法
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.探測和評定試件中各種缺陷
B.探測和確定試樣中的缺陷長度、深度和寬度
C.確定試樣的抗拉強(qiáng)度
D.探測工件表面的開口缺陷
A.可發(fā)現(xiàn)各種類型的缺陷
B.原理簡單容易理解
C.應(yīng)用方法比較簡單
D.被檢零件的形狀尺寸沒有限制
A.可發(fā)現(xiàn)和評定工件的各種缺陷
B.準(zhǔn)確測定表面缺陷的的長度、深度和寬度
C.對表面缺陷顯示直觀且不受方向限制
D.以上都是
A.這種方法能精確地測量裂紋或不連續(xù)性的深度
B.這種方法能殖民地檢驗大型零件
C.這種方法能發(fā)現(xiàn)淺的表面缺陷
D.使用不同類型的滲透材料可獲得較低或較高的靈敏度
A.不能用于鐵磁性材料
B.不能發(fā)現(xiàn)淺的表面缺陷
C.不能用于非金屬表面
D.不能發(fā)現(xiàn)近表面缺陷
最新試題
射線檢測最有害的危險源是（），必須嚴(yán)加控制。
在射線照相檢驗中，隨著射線能量的提高，得到的圖像不清晰度也將增大。
缺陷分類應(yīng)符合驗收標(biāo)準(zhǔn)的要求，標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷，必要時可予以注明供有關(guān)人員參考，但不作為合格與否判定的依據(jù)。
為了提高射線照相對比度，可以采用高電壓、短時間、大管電流的方式曝光。
對于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈，其阻抗變大的情況有（）
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量，因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
超差缺陷是否排除，由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認(rèn)可后送X光檢測。
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家（）
檢測申請時工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求，檢驗蓋章確認(rèn)，確保焊接、檢驗、檢測等全過程具有可追溯性。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求，經(jīng)表面檢驗合格，申請單無需檢驗蓋章確認(rèn)。