A．可增大磁通密度；
B．有助于加熱從而有利于磁感應(yīng)；
C．增大接觸面積，減少燒傷零件的可能性
D．有助于提高零件上的電流強(qiáng)度
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你可能感興趣的試題
A．夾頭法通電；
B．觸頭法通電；
C．中心導(dǎo)體法；
D．以上都是
A．電流方向與缺陷一致；
B．磁場(chǎng)與缺陷垂直；
C．怎么通電都一樣；
D．磁場(chǎng)平行于缺陷
A．螺線形的；
B．周向的；
C．縱向的；
D．畸變的不規(guī)則形狀
A．電阻小；
B．探傷面能用肉眼觀察；
C．探傷面必須光滑；
D．試件必須有磁性
A．中心；
B．近表面；
C．表面；
D．近表面和表面
最新試題
濕法用磁粉粒度一般比干法小。
標(biāo)準(zhǔn)試塊主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測(cè)的系統(tǒng)靈敏度，確定被檢工件的磁化規(guī)范。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時(shí)，按一條磁痕處理，其長(zhǎng)度為兩條磁痕之和加間距。
磁懸液應(yīng)采用軟管沖淋或浸漬法施加于工件表面。
干磁粉可采用手動(dòng)或電動(dòng)噴粉器以及其他合適的工具來(lái)施加，施加時(shí)磁粉應(yīng)厚些撒在工件表面上。
采用濕法時(shí)，應(yīng)確認(rèn)整個(gè)檢測(cè)面被磁懸液濕潤(rùn)后，再施加磁懸液。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
材料磁導(dǎo)率低（剩磁大）及直流磁化后，退磁磁場(chǎng)換向的次數(shù)（退磁頻率）應(yīng)較多，每次下降的磁場(chǎng)值應(yīng)較小，且每次停留的時(shí)間（周期）要略長(zhǎng)。
磁粉檢測(cè)，所有的磁痕尺寸、數(shù)量和產(chǎn)生部位均應(yīng)記錄并圖示。
在黑光燈下檢查熒光磁懸液的載液發(fā)出明顯的熒光，即可判定磁懸液污染。