A．連續(xù)法；
B．剩磁法
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A．剩磁法；
B．連續(xù)法
A．表面缺陷；
B．內(nèi)部缺陷；
C．表面和近表面缺陷；
D．以上都可以
A．芯棒法；
B．縱向通電法；
C．磁軛法；
D．觸頭法；
E．磁通貫通法；
F．A，C和E都是
A．表面缺陷；
B．近表面缺陷；
C．A和B都是；
D．以上都不是
A．周向磁化；
B．縱向磁化；
C．偏振磁化；
D．剩余磁化
最新試題
在不退磁的情況下，周向磁化產(chǎn)生的剩磁比縱向磁化產(chǎn)生的剩磁有更大的危害性。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時(shí)，按一條磁痕處理，其長度為兩條磁痕之和加間距。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
磁粉檢測(cè)—橡膠鑄型法是采用連續(xù)法檢測(cè)。
根據(jù)JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，磁粉檢測(cè)前的工件表面準(zhǔn)備包括打磨表面、安裝接觸墊、封堵盲孔和涂敷反差增強(qiáng)劑。
組合裝配件應(yīng)分解后再進(jìn)行磁粉檢測(cè)。
用連續(xù)法檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響，僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān)。
濕法用磁粉粒度一般比干法小。
熒光磁粉檢測(cè)時(shí)，磁痕的評(píng)定應(yīng)在暗室或暗處進(jìn)行，暗室或暗處可見光照度應(yīng)不小于20Lx。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：磁粉檢測(cè)的工件表面不得有油脂、鐵銹、氧化皮或其它粘附磁粉的物質(zhì)。