最新試題

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:磁粉檢測(cè)時(shí)一般應(yīng)選用A1-60/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。

題型:判斷題

磁粉檢測(cè)—橡膠鑄型法是采用連續(xù)法檢測(cè)。

題型:判斷題

磁懸液應(yīng)采用軟管沖淋或浸漬法施加于工件表面。

題型:判斷題

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:直流退磁法是將需退磁工件放入直流磁場(chǎng)中,逐漸減小電流至零。

題型:判斷題

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:檢測(cè)后加熱至600℃以上進(jìn)行熱處理的工件,一般可不進(jìn)行退磁。

題型:判斷題

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:采用軸向通電法和觸頭法磁化時(shí),為了防止電弧燒傷工件表面,應(yīng)將工件和電極接觸部分清除干凈或在電極上安裝非導(dǎo)電物質(zhì)。

題型:判斷題

磁場(chǎng)指示器是用于被檢工件表面磁場(chǎng)方向,有效檢測(cè)區(qū)及磁化方法是否正確的一種準(zhǔn)確的校驗(yàn)工具。

題型:判斷題

C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同,只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。

題型:判斷題

相關(guān)顯示是由漏磁場(chǎng)吸附磁粉形成的磁痕顯示。

題型:判斷題

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小缺陷磁痕時(shí)應(yīng)用2~10倍放大鏡進(jìn)行觀察。

題型:判斷題