相關(guān)顯示是由漏磁場吸附磁粉形成的磁痕顯示。

JB/T4730.4-2005標(biāo)準規(guī)定：直流退磁法是將需退磁工件放入直流磁場中，逐漸減小電流至零。

熒光磁粉檢測時，磁痕的評定應(yīng)在暗室或暗處進行，暗室或暗處可見光照度應(yīng)不小于20Lx。

JB/T4730.4-2005標(biāo)準規(guī)定：剩磁應(yīng)不大于0.3mT（240A/m）。

用連續(xù)法檢測時，檢測靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響，僅與被檢工件表面磁場強度有關(guān)。

C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。

對于交流線圈，線圈中的工件將影響電流的調(diào)整。

剩磁法不能用于干法檢測。

濕法用磁粉粒度一般比干法小。

JB/T4730.4-2005標(biāo)準規(guī)定：采用軸向通電法和觸頭法磁化時，為了防止電弧燒傷工件表面，應(yīng)將工件和電極接觸部分清除干凈或在電極上安裝非導(dǎo)電物質(zhì)。