目前用OTDR測量單模光纖，最常用的測試波長是（）。

OTDR監(jiān)測光纖熔接損耗的三種主要方式是（）、（）和（）。

光纜接頭盒的種類較多，從接續(xù)方式上分為直通接續(xù)接頭盒和（）兩種。

光由折射率為n1的光密介質(zhì)射向折射率為n2的光疏介質(zhì)時(shí)（n1＞n2），臨界角的正弦值為（）。

造成光纜線路障礙的原因大致可分為外力因素、（）、（）、光纜自身缺陷等四大類。

ITU-T規(guī)定，單模光纖的纖芯直徑為（）。

光纜的中繼段測試又稱為（）測試。

對光纜接續(xù)提供可靠保護(hù)的無源設(shè)備是（）。

凡是影響到光纜線路通信質(zhì)量的內(nèi)在或外在的各種因素均稱為（）。根據(jù)隱患的性質(zhì)可將隱患分為（）和（）兩種。

光纖的熔接操作一般分為光纖端面的制備、（）和（）三個(gè)步驟。