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收/發(fā)聯(lián)合雙晶探頭適合于檢驗(yàn)近表面缺陷。
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聚焦探頭的焦距場(chǎng),相當(dāng)于其不聚焦來說,F(xiàn)一定大于近場(chǎng)長度。
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用單斜探頭檢查厚焊縫時(shí)容易漏掉與探測(cè)面垂直的大而平的缺陷。
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