問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】試驗(yàn)中有時(shí)發(fā)現(xiàn)絕緣電阻較低,泄漏電流大而被認(rèn)為不合格的被試品,為什么同時(shí)測(cè)得的tgδ值還合格呢?

答案: 絕緣電阻較低,泄漏電流大而不合格的試品,一般表明在被試的并聯(lián)等值電路中,某一支路絕緣電阻較低,而若干并聯(lián)等值電路的tg&...
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問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】為什么在低于5℃時(shí),介質(zhì)損耗試驗(yàn)結(jié)果準(zhǔn)確性會(huì)變差?

答案: 溫度低于5℃時(shí),受潮設(shè)備的介質(zhì)損耗試驗(yàn)測(cè)得的tgδ值誤差較大,這是由于水在油中的溶解度隨溫度降低而降低,在低...
問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】為什么說(shuō)在低于5℃時(shí),介質(zhì)損耗試驗(yàn)結(jié)果準(zhǔn)確性差?

答案: 溫度低于5℃時(shí),受潮設(shè)備的介質(zhì)損耗試驗(yàn)測(cè)得的tgδ值誤差較大,這是由于水在油中的溶解度隨溫度降低而降低,在低...
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